电子背散射衍射(EBSD)已成为扫描电子显微镜(SEM)的标准配置附件。借助EBSD技术获得的菊池花样,SEM可以进行相鉴定、晶体取向以及织构分析。现有的这些应用在技术上是成熟的,其算法主要是基于Hough变换识别EBSD花样的菊池带。由于Hough变换不能直接识别双曲线,由传统的Hough变换获得的菊池带信息是不准确的,这给EBSD花样解析未知晶体的Bravais点阵造成致命影响。为此本论文主要探讨精确识别菊池带双曲线状边界的算法,同时利用多线程技术实现快速自动完成整个识别过程,并开发出应用程序。首先对EBSD花样做Hough变换,从Hough变换结果中识别出EBSD花样中衬度最明显的菊池带,然后对这些菊池带的迹线进行微调与优化,沿双曲线统计分析其灰度分布曲线,依据菊池带边界具有最大灰度梯度的原则,提高识别准确性。利用晶体学中晶面与晶向之间的固有约束规律,由同一条菊池带迹线上的交点反复拟合其迹线,基于优化后的迹线,进一步提高交点的准确性。再利用这些交点连接线识别出更多菊池带,并对菊池带进行捆绑关联,从而提高菊池带的整体识别精度。基于上述算法,采用CPU与GPU的并行计算,开发了应用软件,加快整个识别过程,详细比较了这两种并行计算的加速效果。