基于USB2.0的高精度线阵CCD非接触尺寸测量

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近年来,随着生产与科学技术的迅速发展,传统的测量手段很难满足现代工业的要求。随着新型光电器件不断涌现,产生了很多新的测量方式。   光电检测技术是利用光电传感器实现各类检测。它将被测量的量转换成光通量,再转换成电量,并综合利用信息传送和处理技术,完成在线和自动测量。CCD边缘信号是CCD图像的最基本特征,在CCD边缘检测研究中,采用直线拟合算法进行理论上的分析。   介绍了基于USB2.0总线的非接触尺寸测量系统,详细阐述了测量系统的原理。线阵CCD器件作为传感器采集被测尺寸信息,输出信号经过放大和AD量化,经USB2.0总线方式进行数据传输,最后通过用户应用程序进行分析和处理。   设计了测量系统的硬件原理图。采用VHDL语言设计了底层时序逻辑电路,并详细介绍了USB相关软件的开发过程,并给出了部分源代码。在VC++开发平台下,设计了用户应用程序,最后调试硬件系统并进行多组测量实验。   通过实验结果分析表明本测量方案切实可行,相对于传统的测量手段具有高精度、高灵敏等特性,并且实现了非接触尺寸测量。  
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