天线测量是天线研究、制造过程中一项重要而又繁杂的工作。在对高精度、高性能天线的研制过程中，对天线测量的依赖性就更大。本文主要研究了利用平面近场测量方法对超低旁瓣天线进行测量的情况下，几种影响测量精度的主要误差的分析与补偿。并进行了计算机仿真。 首先本文就平面近场测量方法进行了概述，提出了在平面近场测量中影响精度的几种重要的误差源，探头系统的误差源；测量仪器的误差源；测试环境的误差源；随机误差及计算误差源。本文主要对幅相测量误差进行了分析，得出了幅相测量误差和天线参数之间的关系。并且本文对扫描面位置误差所产生的测量误差进行了分析，得出了扫描面位置误差引入的测量误差上界，并且进行了计算机仿真，得出了扫描面位置误差对天线远场方向图旁瓣测量影响的程度。探讨了扫描面位置误差的补偿方法。本文还探讨了由测量仪器所引入的误差上界，并进行了计算机仿真，探讨了测量仪器误差的补偿方法，并进行了计算机仿真。