本文基于OSD (On Screen Display)芯片BES7456设计实现了OSD芯片的测试方案和应用平台。该芯片在SMIC 0.13μm的工艺下制造,支持PAL和NTSC两种电视制式,适用于单色、单通道的随屏显示系统。本文重点研究了OSD芯片的测试方案,本设计采用单个模块分别测试,再进行总体测试,并使用芯片应用平台相辅助的方法。设计中,首先分析了模拟电视系统和OSD系统的要求,再详细研究了OSD芯片BES7456的具体结构,各模块的具体功能和性能参数要求,并结合集成电路模数混合信号测试的测试机理,提出了该芯片的测试方案；然后根据这种测试方案完成了各个模块的测试；最后利用应用平台的具体显示效果从系统的角度对芯片的性能进行了验证,依据测试结果和电视显示效果相比较来分析整个系统,提交整个系统的最终测试结果,这就使得该芯片的测试更加可靠,并为下一步设计提供更好的参考。本文同时对OSD芯片BES7456的应用平台进行了研究,主要包括应用软件,外围硬件的设计。软件设计主要是搭建软件开发调试平台,开发出芯片的各种功能,各种工作模式的应用,硬件设计主要是芯片外围所需的一些电路和元件,包括供电系统,电平转换系统,信号通道的设计。根据这一设计,得出了BES7456芯片在模拟O SD系统中的显示效果,直观地观察到芯片的实际功能,得到了芯片最可靠的结果,对此类芯片的测试系统的设计也有一定的参考价值。本文的创新之处在于：改进了传统的芯片测试方案。传统芯片测试,只是对芯片的各个具体参数进行测试,没有对芯片整体性能的直观感受,无法保证芯片最终的显示效果,对测试无法形成整体概念,本设计采用各个参数具体测试和芯片整体应用测试的方法取代传统的规范和模型的测试。新的方法可以更可靠地测试芯片的整体性能,提高了测试的可靠性。本文的研究成果对于OSD芯片的进一步设计,芯片测试系统的设计以及OSD应用平台的设计,均有很好的参考价值。