电子散斑干涉条纹图和相位图滤波方法的应用研究

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电子散斑干涉测量(Electronic speckle pattern interferometery简写为ESPI)是一种全场非破坏性光学测量技术,广泛应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测。准确地提取相位在应用ESPI获得物体变形位移信息中起着非常重要的作用。然而,通常实验获得的相位图在很大程度上受到噪声的影响,所以滤波方法的研究就变得很重要了。本文针对电子散斑条纹图和相位图的滤波方法进行了研究。首先本文将改进的偏微分方程滤波方法应用在电子散斑条纹图上。然后,根据电子散斑相位图的特性,在滤波的过程既要去除噪声又要保持相位跳变信息,本文将偏微分方程滤波方法与正余弦滤波法相结合,应用于电子散斑相位图去噪。本文把最小二乘拟合的思想加入到相位图滤波上,提出了一种有效的滤波方法:切线方向的最小二乘相位图滤波法。改进的相位图滤波方法具有以下几个优点:第一,本算法适用性强,可以应用在由各种方法得到的散斑相位图噪声去除上;第二,本算法可以根据图像噪声大小的情况进行迭代次数的选择;第三,根据相位条纹图的条纹形状,本算法中滤波窗口可以选取竖直方向的矩形窗口或正方形窗口。为了达到更好的滤波效果,对于条纹比较稠密的相位图,可以在沿条纹切线方向的窗口中进行平滑处理,可以有效的避免条纹模糊现象的发生。而对于条纹稀疏的相位图,可以在计算过程中采取串行计算:对于一幅图像,逐个像素点进行运算,得到滤波后的相位值,并立即更新原图像当前点的相位值,这样可以提高算法的平滑效率。本算法是一种行之有效的相位图滤波算法,具有较高的实用价值。
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