基于IEEE 1149.1标准的边界扫描技术(BST)作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段。现在大部分的复杂芯片都支持边界扫描功能,怎样利用它们来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题。本文在对边界扫描技术进行系统研究的基础上,结合电路板可测性设计理论,以某电路板故障诊断通用平台中的中央资源板为研究对象,对其进行结构上的改进,将边界扫描机制引入电路设计。搭建了以ASSET公司的ScanWorks软件为基础的测试平台,编写器件的逻辑模型,对目标板进行了测试实验,实现了扫描链完整性测试、边界扫描互连测试及逻辑簇测试,验证了可测性设计的有效性。针对实际应用中边界扫描和非边界扫描器件的混合设计还将长期存在的现状,结合测试过程中遇到的问题,研究和探讨了如何通过改进边界扫描器件对非边界扫描器件的可观测性与可控制性来提高故障诊断的覆盖率,并通过实验进行了验证。