测试是生产集成电路必不可缺的环节。随着新材料的发展与制造工艺的进步,芯片中晶体管的密度呈指数倍增加,集成电路测试的复杂度和成本越来越高。集成电路的测试成为当前研究的一个挑战。集成电路测试过程中的功耗、测试应用时间与硬件开销是测试的瓶颈,其中以降低测试应用时间为目的的低费用测试是研究的重点。在寄存器传输级(RTL)数据通路的测试中,非扫描内建自测试是一种有效的测试方法,这种方法能实现全速测试且测试应用时间短。但这类方法硬件开销大,功耗过高。本文提出了一种新的测试方法,研究利用RTL数据通路中的内部功能模块,加法器、减法器、乘法器作为一种产生测试向量硬件的方法,对被测模块进行测试,以降低测试应用时间和硬件开销。加法器与减法器产生测试向量的原理与累加器的相同。传统的乘法器不能产生测试所需的全部向量,本文对乘法器结构进行了改进,使得改进后的乘法器在测试模式下,能够产生测试所需的所有向量。针对RTL数据通路,本文提出一种测试综合与调度方法。在测试综合过程中,本文运用启发性算法给被测模块分配测试向量产生器与响应分析器；在可测性设计算法中,本文引入一个目标评判函数来确定测试应用时间与硬件开销。在测试调度中,本文利用不相容结构图与去边算法对被测模块进行调度测试。我们所给出的测试综合方案与调度算法具备良好的性能和实用性。实验结果表明,对于Paulin、Tseng、LWF三个数据通路,本文所提出的方法,在满足既定功耗约束下,测试应用时间有所降低,最多可以降低22.4%；同时硬件开销能大大的降低,最多可以降低73.4%。