电光相位调制器是电光调制器中最简单的一种，它相对于强度调制器具有结构简单、插入损耗低等优点，因此电光相位调制器在光通信、微波光子等领域有广泛的应用。半波电压是相位调制器主要的参数之一，本论文的主要内容就是研究电光相位调制器的半波电压的测试方法，由这些测试方法得到电光相位调制器的高频特性。本论文首先设计了光谱分析法测量电光相位调制器的半波电压，光谱分析法包括光载波零点法和一阶边带光载波比的方法。使用光载波零点法以及一阶边带光载波比的方法，测量了相位调制器的半波电压。得到了高频调制情况下，相位调制器半波电压随调制频率的变化关系。在小信号近似情况下，得到相位调制器半波电压与一阶边带光载波强度比之间的解析关系。设计了外差法测量电光相位调制器的半波电压，外差法包括不同阶边带强度比的方法和同阶边带强度比的方法。利用相位调制器输出光信号的边带与参考光拍频信号的功率值，表征相位调制器输出光信号对应阶边带的强度大小。使用不同阶边带强度比的方法，测量得到相位调制器半波电压随调制频率的变化关系，实现了低频调制情况下的测量，提高了测量的分辨率。提出同阶边带强度比的方法，在实现低频调制测量和提高分辨率的情况下，消除了光电探测器、微波放大器和微波电缆频率响应的影响，降低了高频调制情况下对频谱分析仪测量范围和光电探测器带宽的要求。光谱分析法和外差法测量结果基本一致，由此验证了外差法的准确性。设计了基于FM-IM(Frequency-modulation to intensity-modulation)效应测量电光相位调制器的半波电压的方法，包括FM-IM的频谱分析法和FM-IM的功率分析法。提出利用保偏光纤双折射效应，实现FM-IM的频谱分析的方法，仿真得到的结果与光谱分析法一致。使用干涉的方法，测量得到保偏光纤的延迟时间。利用可调延时干涉仪，实现FM-IM的光功率分析的方法，仿真得到的结果与光谱分析法仿真结果一致。FM-IM光功率分析法，能够降低测量的成本。