传统控制图对正态分布研究比较丰富,但对双参数指数分布研究较少.因双参数指数分布在可靠性理论和失效时间(Time to failure)等领域应用特别广泛,所以有必要对双参数指数分布控制图的设计做出讨论.记忆类控制图CUSUM和EWMA改进了无记忆Shewart控制图对中小漂移检测的灵敏性,而基于似然比检验构造统计量的方法与CUSUM和EWMA控制图相比,能快速发现过程漂移,且设计简单,应用广泛,仍然是研究者设计控制图优先考虑的方法.此外,实际生产中经常遇到分布参数未知,参数未知时,从阶段I得到的参数估计会对控制图产生影响,因此分析参数估计对控制图产生的影响显得尤为重要.针对双参数指数分布在描述生存分析和寿命分布时数据存在删失的情况.本文基于第二类删失数据设计两个EWMA类型控制图方案同时检测双参数指数分布的位置参数和尺度参数.文章的研究内容及创新性:(1)提出改进的基于似然比检验结合EWMA方法设计双参数指数分布NLR控制图.比较显示,改进的方法提高了控制图的检测效率.通过分析参数估计对控制图的影响,当过程参数未知时,给出阶段I参数估计所需的最小样本量.使得参数未知时的表现与参数已知时的表现一致.(2)构造两种基于第二类传统删失方案的双参数指数分布控制图,分别是Max-EWS图和LR-EWS图.当位置参数发生向上漂移,尺度参数小于1时推荐使用LR-EWS控制图,大于1时推荐使用Max-EWS控制图.此外,试验停止时使用的样本容量影响控制图的检测效率,即删失的样本个数越少,检测效果越好.