背景智力低下是许多染色体疾病及遗传代谢性疾病的常见表现,发病率约占儿童总数的2-3%[1]。染色体异常是导致儿童生长发育迟缓、智力低下、运动行为发育障碍及多发畸形的常见原因之一。3p综合征[2]由verjaal和de Nef于1978年首次报道,后来由Garcia Segredo(1981)、Witt(1981)、Higginbottom(1982)、Reifen(1986)、Scwyer(1987)、Tazelaar(1991)、Mowrey(1993)、Phipps(1994)Drumheller(1996)等分别补充了各种类型的主要特征。它是一组染色体缺失疾病,主要表现为全面生长发育迟缓、智力低下、小头畸形、小下颌、长人中、上睑下垂、多指畸形、肌张力减低等,临床亦可见先天性心脏病、刻板动作、胃肠道畸形,肠旋转不良等。多数儿童由于缺乏进一步检查而很难得到早期正确的诊断和进一步治疗。3p综合征虽然发病率较低,但一般都有明显的智力障碍和其他异常,且具有较典型的临床特征。高通量测序特别是染色体基因芯片分析技术,对于发现单个碱基或较小片段插入或缺失、微重复及基因组拷贝数变异(CNV)等意义重大。目前主要分为基于微阵列的比较基因组杂交(array-based comparative genomic hybridization,a CGH)技术以及单核苷酸多态性微阵列分析技术(SNP array)两种。美国医学及遗传学组(ACMG)建议将染色体基因芯片分析技术作为临床上检测不明原因的智力低下、不明原因的发育迟缓、多种畸形体征及自闭症谱系障碍等疾病作为首选检查方法。本研究将2017年7月至2019年07月就诊于我院生长发育专科门诊的40例不明原因生长发育落后、智力低下或多发畸形的患儿纳入研究,完善相关检查及染色体基因芯片等检查,并重点回顾性分析1例罕见的有代表性的3p25.3p25.2杂合缺失综合征患儿的临床表型特点及基因遗传性特征,研究分析其临床表型及分子遗传学特征,探索其可能的致病性机制。目的研究并分析不明原因生长发育落后伴智力低下及或多发畸形为主要表现的患儿临床特点,分析以3p25.3p25.2染色体片段缺失为代表的染色体疾病患儿临床表型、分子遗传学特点并探讨其致病机制。方法运用染色体微阵列基因芯片技术研究40例(男20例,女20例,平均年龄4.5?2.9岁)不明原因生长发育落后、智力低下儿童,进行染色体核型分析及染色体基因芯片分析,对其中1例具有典型矮小、全面生长发育落后、特殊面容伴多发畸形表现的染色体疾病表现患儿运用染色体基因芯片技术明确诊断为罕见的3p25.3p25.2染色体杂合缺失综合征,并以该例患儿为代表重点进行回顾性分析,研究并分析其临床表型、分子遗传学特征及可能致病机制。结果1.12.5%(5/40)的患儿染色体基因芯片检测发现致病性变异,分别为1例3p25.3p25.2染色体杂合缺失综合征,Bloom综合征1例,POLE基因突变1例,UFSP2基因突变1例,stat1基因突变1例,染色体基因芯片阳性率12.5%;2.3p25.3p25.2患儿,男孩,1岁4月。宫内发育迟缓,重度矮小、全面生长发育落后、语言发育迟缓、特殊面容伴多发畸形(小头畸形、头颅外观畸形、小下颌、长人中、低耳位、双侧耳前瘘管等)、先天性十二指肠闭锁、肠旋转不良,先天性心脏病、隐睾、龟头裸露、肌张力低下、婴儿期喂养困难、睡眠障碍、甲状腺功能减低。患儿染色体核型分析46,XY。染色体基因芯片分析证实3号染色体p25.3p25.2区域存在一段3327kb的杂合缺失。结论1.染色体基因芯片检查阳性率明显高于染色体核型分析,不明原因的生长发育迟缓和智力低下及多发畸形患儿,建议染色体基因芯片检查。2.一例3p25.3p25.2染色体杂合缺失综合征患儿存在3327kb杂合缺失,共39个基因缺失,SETD5、VHL、FANCD2等基因缺失是导致该患儿临床表型的主要原因。