随着人们对集成电路产品功能要求的多样化,集成电路行业得到了飞速的发展,各种超大规模集成电路(VLSI)相继问世。这些品种繁多的VLSI,不仅功能各异、工作速度快,而且管脚数目几乎完全不同。这就增加了VLSI 的测试难度。为了实现同机测试多种VLSI 的功能,必须研发速度快、功能强、测试管脚多的自动测试系统。本文介绍了以多片并行ADSP-TS101 芯片为核心部件的VLSI 功能测试用图形发生器的原理及其优势。本文通过对并行运算和并行计算机的分析,结合ADSP-TS101 的软硬件资源,提出了多片ADSP-TS101 的并行方案,并对不同的方案作了比较说明。另外本文还比较详细的分析比较了常用的存储器测试算法,简要分析了VLSI 测试生成算法。本文分如下五个部分进行阐述: 第一、叙述并行计算和并行计算机,介绍并行计算机的发展、并行算法及其衡量标准、并行处理系统的分类。第二、叙述存储器的功能测试。根据存储器的结构,分析故障产生原因;介绍存储器测试的常用测试图形;最后给出仿真试验结论。第三、叙述所采用的工作平台—ADSP-TS101,根据ADSP-TS101 的软硬件资源,给出并行方案。第四、叙述VLSI 的功能测试。主要介绍自动测试系统的发展和测试生成算法。第五、根据VLSI 自动测试系统的实际需求,给出一个基于多片并行ADSP-TS101 芯片为核心部件的VLSI 功能测试用图形发生器的实现方案。