高频陶瓷贴片电容是射频电路最常用的元件之一,对射频电路的性能起着重要的作用。使用高精度的仪器测量贴片电容的性能参数是贴片电容出厂前必不可少的环节。从十九世纪90年代初起,谐振腔测量高频陶瓷贴片电容的方法得到电容制造商的普遍认可。如今,随着新高精度测量仪器的出现,使这种测量方法的测量精度和测量效率也随之提高。大连达利凯普有限公司委托大连海事大学天线微波研究所研究基于矢网的贴片电容测量装置,笔者参与了该项目的研发并对项目总结形成论文。根据美国工业联盟(EIA)RS-483测量标准将谐振腔装置(使用频率发生器和毫伏表作为测量仪器)改进为基于矢量网络分析仪的测量装置。借助HFSS电磁仿真软件,了解同轴腔的谐振特性,并设计了一个射频同轴接头。在实际情况下,通过测量34A谐振腔的谐振情况发现,谐振腔不仅仅是简单的λ/4的同轴谐振线,还包含分布寄生参数。根据谐振腔的谐振特性,将分布寄生参数等效为集总电感和电容,这简化了RS-483测量标准中的部分公式。另外,为了让整个测量过程便于实际生产中的测量和计算,搭建了基于GPIB接口的自动化测量的平台,并在VC++6.0的环境下编程实现了测量、计算和保存的完整测量过程。研究成果已经用于大连达力凯普有限公司的日常生产中,用于测量该公司的高频陶瓷贴片电容,为其带来了一定的经济效益。笔者将所研究装置的测量结果作以下对比：将测量结果与上述频率发生器、毫伏表装置的测量结果对比；将测量结果与阻抗材料分析仪E4991A的测量结果对比；将测量结果与KEMET贴片电容制造公司谐振腔的测量结果对比。从这些对比结果中可以说明,所研究的基于矢网的34A谐振腔装置能够在100MHz-3GHz频率范围内测量高频陶瓷贴片电容的损耗和品质因数。