SoC是电子芯片系统发展的主要方向，它通过集成许多不同的IP功能模块到单一硅半导体芯片上，实现了系统功能的单芯片化。作为SoC的核心组成部分，IP的质量是影响IP集成的关键。一套行之有效的的IP质量评估标准可以显著改善IP的质量，从而大大促进了SoC业的发展。 本论文围绕SoC的IP质量评估标准进行了系统、深入的探讨与研究，建立了IP质量评估标准的整体概念，并详细讨论了影响IP质量的细节要求。论文首先简述了SoC及IP的设计验证等方面的基础知识，对基于IP的SoC的设计进行了探讨。在此基础上提出了IP所面临的标准问题并对IP标准中较重要的几个方面进行了详细说明。然后论文聚焦于IP质量评估标准，从多个方面对该标准的可行性，客观性等进行了论证，并阐述了标准的评估依据。论文最后结合虚拟插座接口联盟的质量IP标准，采用实例和文字结合的形式对数字软核IP的评估细节以及评估的作用、方法等进行了论述。 本论文的研究工作有助于芯片业者更好的理解IP质量评估标准的重要性及其意义，能够帮助提升芯片业者应用质量IP标准的能力。希望论文的研究工作能为推广IP质量评估标准在国内的应用起到积极的作用。