TD-SCDMA商用化正在国内如火如荼的开展，新一代宽带技术TD-LTE的研发工作也在积极的展开。作为TD-SCDMA/TD-LTE产业链中不可或缺的一部分，终端综合测试仪的应用贯穿于整个终端的设计、生产和入网认证环节之中，并且随着TD产业的不断发展，其需求量越来越大。　　 通过理论研究、算法设计、代码编写和集成调试的流程，本论文完成了“GSM/TD-SCDMA终端发射机调制质量测试”和“TD-LTE终端射频一致性测试”的课题目标。　　 论文的主要内容如下：　　 一、分析了终端射频一致性测试对于通信产业发展的重要意义，并对TD-SCDMA终端射频一致性测试仪器的软硬件架构及其具备的测试功能做了简要介绍。　　 二、重点分析了GSM/TD-SCDMA终端发射机调制质量测试项。首先介绍了调制质量测试的概念和意义，并分析了产生EVM的诸多原因。然后以TD WQ测量项为例讨论了调制质量测试的研究模型和算法实现流程。最后通过理论推导与仿真，对调制质量测试中频偏估计的多种实现方法进行了对比分析和改进，对EDGE8PSK信号IQ偏移的实现算法进行了优化和改进，最终使得测量项在精度和效率方面都有显著提升。　　 三、在分析和总结TD-LTE终端射频一致性测试规范的基础上，对TD-LTE终端射频一致性测试功能进行设计和实现。最后简要的对整篇进行了回顾总结及展望。　　 本文的研究成果已应用到商用终端综合测试仪的设计与实现当中。到目前为止，该仪表已经通过多方面的测试，能够稳定运行。已被多家芯片和手机生产商所使用，反响良好。