电触头作为继电器的关键部位之一,很容易受到电弧、环境、机械三方面的侵蚀作用而失效^[1],其中电侵蚀影响最为明显。然而,电侵蚀是一门非常复杂的学科,涉及到的影响因素很多。因此,研究触头材料的抗电侵蚀性能,分析各种参数如电流电压、环境气氛等对材料抗电侵蚀性能的影响,对提高触头的耐电弧烧蚀能力,提高继电器工作可靠性具有重要的意义。首先,本文针对实验室原有触头模拟装置存在的问题进行了改进,使之能满足实验要求。然后利用改进后的装置搭建了触头实验平台,开展28V,20A/45A/70A条件下AgNi和AgSnO₂触头的烧蚀实验研究,分析电流与触头抗电侵蚀性能的关系,结果表明二者呈正相关,且随电流增大,AgNi材料转移方向发生了反转。为了探究是否AgMe的抗电侵蚀性能优于AgMeO,在多种电流条件下开展了多种AgMeO和AgMe触头的烧蚀实验,发现不同条件下二者的抗电侵蚀性能优劣并无明显规律。使用扫描电镜和能谱仪对AgMeO和AgMe触头进行形貌与成分分析,研究了部分触头增重的原因。其次,由于铜基触头比银基更耐烧蚀,在270V/100A条件下,对Air中CuCr系和CuW系触头进行了实验研究,对材料抗电侵蚀性能进行了分析排序。然后,保持实验条件不变,开展N₂下触头烧蚀实验,分析两种气氛下触头的抗电侵蚀性能优劣。对Air和N₂条件下CuCr和CuW触头进行SEM和EDS分析,验证了上述结论。最后,在高压大电流条件下进行了Air、N₂、CO₂、O₂四种气氛下的CuW70触头烧蚀实验,发现在N₂中触头抗电侵蚀性能依然是四种气氛中最好的,而O₂中触头侵蚀远比在其他气体中严重。