本工作采用能量范围从180kev到380kev的低能高电荷态Ar^q+（q=12-16）离子轰击铝靶，测量Al的k壳层x射线发射，对x射线的产生过程进行了研究。在实验上得到铝的k壳层x射线的产额和电离截面。在二体碰撞理论和分子轨道理论基础上，建立一个以2pπ-2pσ耦合为框架的模型，对铝的k壳层x射线发射机制给出理论解释。即带有2p壳层空穴的氩离子靠近靶的铝原子时，铝原子与氩离子形成一个联合原子态。铝的1s壳层电子通过2pπ-2pσ耦合转移到氩的2p空穴上。铝的l壳层电子退激到k壳层上，产生铝的k壳层x射线发射。在这个框架下通过计算得到x射线产额的理论值和铝k壳层电离截面的理论值。实验数据在这个2pπ-2pσ耦合结构里等到很好的解释，模型的计算结果和实验观察值是相符合的。并定性解释了为什么在相同入射能量作用下，Ar¹²⁺，Ar¹⁴⁺和Ar¹⁵⁺作用下x射线的产额几乎一样，而Ar¹³⁺作用下的x射线的产额相对较大，Ar¹⁶⁺的却比较小。