人们总是会面对大量的面孔,这些面孔或来自现实世界,或来自虚拟世界。值得注意的是,人类有记忆和识别众多面孔的能力。研究者就人类是靠什么完成了高效准确的面孔加工进行了大量研究。其中,有研究者将面孔加工过程进行了分类:构形加工和特征加工。当前,面孔构形加工和特征加工的研究已是心理学研究中的一个热点,但关键问题上依然存在争议,比如是否构形加工和特征加工的重要性不同?N170成分是对构形还是特征加工敏感?本研究就这些重要的争议进行了探究。此外,在生活中,人们不是每次都面对一张面孔,所以面孔的数量也是一个需要探讨的问题,在面孔加工方式上增加面孔记忆负载这一个因素是否还会得出同样的结论值得探讨。总之,本研究将面孔加工方式和面孔记忆负载这两个因素相结合,旨在探讨面孔加工方式和记忆负载的关系,并结合脑电技术以N170,P1,P2成分为指标同时考察其时间进程。本研究利用面孔构形和特征加工不同操作定义进行了三个平行实验。尽管三个实验的实验材料都不相同,但是都可以作为探讨面孔构形和特征加工的角度:其中,正立面孔含有构形信息,可用来探究构形加工;倒置面孔只含有特征信息,可用来研究特征加工;高频面孔含有特征信息,可用来研究特征加工;低频面孔只含有构形信息,可用来研究构形加工。实验一采用二阶构形面孔和特征面孔为实验材料,并结合ERP技术探讨记忆负载对面孔构形和特征加工的影响;采用了2(面孔加工方式:二阶构形面孔、特征面孔)×3(记忆负载:低负载、中负载、高负载)的被试内设计。实验二采用正立面孔和倒置面孔为实验材料,并结合ERP技术探讨记忆负载对正立和倒置面孔加工的影响;采用了2(面孔朝向:正立面孔、倒置面孔)×3(记忆负载:低负载、中负载、高负载)的被试内设计。实验三采用宽频面孔、低频面孔和高频面孔为实验材料,并结合ERP技术探讨记忆负载对不同空间频率面孔加工的影响;采用了3(面孔频率:低频面孔、高频面孔、宽频面孔)×3(记忆负载:低负载、中负载、高负载)的被试内设计。其中,低负载条件下要求被试记忆一张面孔,中负载条件下要求被试记忆两张面孔,高负载条件下要求被试记忆三张面孔。以上三个实验的研究目的和研究方法相似,三个实验都在行为水平上分析再认阶段的正确率和反应时,在脑电上分析面孔记忆阶段的N170、P1、P2成分的幅值和潜伏期。本研究可得出如下结论:(1)不同面孔加工方式的实验成绩存在差异。具体而言:二阶构形面孔加工的反应时长于特征面孔加工;宽空间频率面孔加工的正确率高于低空间频率面孔加工,低空间频率面孔加工的正确率高于高空间频率面孔加工;在正确率和反应时上,低负载和中负载时正立面孔加工的成绩都好于倒置面孔加工,高负载时没有差异。(2)记忆负载因素在三个实验中作用突出,随着记忆负载的增加,被试的正确率下降,反应时延长;在脑电结果上,N170成分随着记忆负载增加,幅值变大,潜伏期变长;P2成分随着记忆负载的增大,幅值变小。(3)在较高的记忆负载条件下,实验一表明特征加工成绩好于构形加工,而实验二和实验三表明构形加工成绩好于特征加工;面孔加工方式的表现受到记忆负载的影响,这也体现在在N170、P1和P2成分上。(4)面孔构形加工增强了P2成分。