随着SOC系统设计规模的日趋复杂,SOC的测试由于系统集成了多个不同的IP核而变得愈加困难,已经逐渐成为SOC发展的瓶颈。以核测试复用为目标的测试策略是解决SOC测试问题的基础,因此研究SOC的嵌入式核测试复用技术及其测试系统具有重要的理论价值和实际意义。本文在深入研究IEEE P1500标准的基础上,设计并实现了嵌入式核测试复用的测试系统,该系统包括硬件系统和软件系统。硬件系统围绕产生P1500标准规定的控制信号的测试控制器而展开,另外包括微机接口电路;软件系统以测试矢量生成部分为核心展开,另外包括文本编译模块、底层驱动模块和故障诊断模块。同时本文对IEEE P1500标准所定义的测试方法也进行了较深入的探讨和研究,此外还应用该测试方法和所设计的测试系统对DEMO电路进行了实际测试。从仿真和实际测试的结果来看:测试方法正确;测试系统的软硬件设计达到了预定的设计目标,各项指标基本符合嵌入式核测试复用的各项要求。只要加以改进,就可以达到实用化的程度。