随着天线单元数目的增加,综合孔径微波辐射计进行信号处理所需器件的数量会成指数增长,这必然导致整个系统复杂度极大的增加。为了解决模拟系统中的这一问题,研究人员开始采用数字采样综合孔径微波辐射计,将系统的硬件复杂度转变为信号处理的复杂度。ADC是模拟信号数字化的关键器件,在其转换过程中会存在误差,这些误差会造成系统灵敏度的损失以及成像结果的偏差,因此研究这些误差对系统性能的影响成为一个非常有意义的课题。论文首先全面介绍了数字采样综合孔径微波辐射计中ADC的发展和研究现状,并建立了ADC的误差模型。在此基础上详细分析了存在量化误差时的可见度函数,推导出量化位数、ADC量程和系统灵敏度之间的关系,同时研究了量化位数对系统复杂度的影响,分析表明4比特量化是系统灵敏度与复杂度之间一个比较好的折中。最后,针对数字采样综合孔径微波辐射计中ADC非线性误差进行分析。首先分析存在微分非线性时的系统灵敏度,研究表明4比特以下量化时,微分非线性的影响比较大,反之亦然;其次分析采样误差对系统成像性能的影响,仿真结果表明采样误差超过采样周期的1/36时会给系统成像带来偏差,超过1/12时会造成场景亮温分布图扭曲。