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介电常数?p是处于电场中的材料对电场的响应的一个特征量,?p与极化率直接有关,并影响作用在粒子上的光力,介电常数为????p r i=+i,其中,?r是?p的实部,它反映材料储存能量的能力,而?i是?p的虚部,它反映了材料损耗能量的情况。作用在粒子上的光力可分为保守力(梯度力)与非保守力(散射力和吸收力),这两种力有不同的性质与应用价值。直到近年来,才数值及解析地实现了对Mie粒子(尺寸和波长相比拟,实验中常用的粒子尺度)的受力分离。本文基于此项研究成果,结合数值模拟(基于快速傅里叶变换和Mie理论)与解析分析(基于多级展开理论),研究?i对粒子所受保守力与非保守力的影响,从而利用这两种力的不同性质实现对粒子更加精准、自由的操控。本文的结构框架为:第一章是背景的介绍及对光力分离原理的简单阐述,分为三部分:光学微操控发展的概述,粒子所受光力分成保守力gF和非保守力kF的基本原理,本文的主要内容。第二章是先介绍计算中应用的各个参数及其符号,再介绍判断数值模拟程序的正确性与准确性的方法,然后结合两种方法(快速傅里叶变换与多极展开),研究线偏振高斯光束照射下,在z轴上小半径(a(28)0.1?m)的金属以及介质粒子所受z方向保守力gzF与非保守力kzF随介电常数虚部变化的情况,发现非保守力z分量的最大值总是出现在场强最大的位置,而保守力z分量的最大值则总是出现在场强最大值的两边,并且这两种力均在微粒远离场强最大处时迅速衰减。第三章是先比较两种偏振(左旋圆偏光和右旋圆偏光)高斯光束照射下的Mie粒子所受保守力gF和非保守力kF的对比,之后是结合数值模拟与解析计算来研究金属以及介质Mie粒子在各平面上所受gF随介电常数虚部的变化趋势,发现2.53r?(28)对应的小半径介质粒子所受gF随?i的变化没有出现正负区域变换现象,而2.53r?(28)对应的大半径介质粒子所受gF随?i的变化却出现此现象,5r?(28)-对应的金属粒子的gF随?i变化的情况正好与介质粒子的相反。第四章是总结本文并对此研究的后续发展进行展望。