随着社会对更小更纤薄电子产品的追求及半导体工艺技术的发展,当代So C芯片也在朝着尺寸更小、功能更多的方向发展,IC设计公司为降低芯片成本、缩短开发时间,IP核复用技术被大规模应用在So C上,然而由于这些IP核往往来自于不同的供应商,有着不同的测试需求,访问和测试这些IP变得十分困难,原本的测试协议(IEEE1149.1标准)逐渐无法完全满足现代测试需求,IEEE1687标准从被定义开始就是为了解决IP中嵌入式器件的访问测试难题,该标准开发了一种通过IEEE 1149.1标准下的测试访问端口(TAP)访问嵌入式仪器的方法,从而无需定义嵌入式仪器本身,解决了嵌入式仪器芯核的访问测试问题。针对目前在测试过程中对嵌入式仪器测试访问比较困难这一问题,本文以IEEE1687标准为基础,结合可测试性理论,对一款具有5.6万触发器的图像处理IP进行了可测试性设计与实现,并通过仿真验证证明了IJTAG网络(IEEE1687标准)对嵌入式器件进行访问测试的可行性和有效性。本文围绕图像处理IP主要从以下几个方面进行了研究:(1)分析IEEE1149.1标准、IEEE1500标准及IEEE1687标准的基本工作原理,对比这三种标准间的区别和联系。分析IEEE1687标准带来的新变化及其对可测试性设计的影响。(2)根据图像处理模块的基本信息和测试要求,从整体上进行可测试性设计分析,确立测试方案并实现测试电路的插入。(3)分析图像处理模块中插入的SIB结构与工作原理,着重分析IJTAG网络的配置方法及在不同测试模式下IJTAG网络的配置过程。(4)分析影响测试时间和测试覆盖率的因素,通过修改测试结构或工具配置等多种优化手段,提升测试覆盖率、降低测试时间,并对ATPG工具生成的测试向量进行仿真验证。实验结果表明,在IEEE1687标准设计架构下能够通过IJTAG网络来配置IP中的数据寄存器等测试资源,实现扫描路径的选择和灵活切换,完成了在不同测试需求下的测试配置,验证了测试电路功能的正确性及方案的可行性,同时本设计实现了99.92%的固定故障(Stuck-at Fault)测试覆盖率和99.42%的转换故障(Transition Fault)测试覆盖率,满足了既定的测试要求,对工业界的同类测试设计也有一定的参考意义。