目前，半导体存储器(RAM)是应用范围最广、使用数量巨大的集成电路。随着电子设备的智能程度的提高和计算机通讯的飞速发展，促使半导体存储器在品种、读写周期和容量上都发生了很大变化。为了确保半导体存储器的质量和研制开发符合系统的设计要求，在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验和测试，并且需要对存储器的故障进行诊断，以便对产品进行改进。 《GH3163半导体存储器故障测试系统》是国家“八·五”重点科技攻关项目，已于1995年12月通过了国家技术鉴定。作者参加了该项任务，主持了测试系统软件设计开发和部分硬件的研制工作，并以此为基础设计实现了基于知识的《KBSM_Diag半导体存储器诊断系统》，对半导体存储器的故障进行了实验性诊断。 本文简要地介绍了存储器测试系统的硬件的结构和新一代的面向对象的编程方法对测试系统的设计与实现。由Derek Colreman等提出的合成方法的面向对象编程技术发展了OMT／Rumbaugh，Booch，CRC和Objectory的最好的特性，并对面向对象的分析、设计和实现，提供了更直接的途径。半导体存储器测试系统采用了新一代面向对象的技术-合成方法，使得测试系统的软件技术更实用和效率更高。 本文经过对半导体存储器的结构和故障分析，着重地给出了测试算法故障覆盖几率的定义，对测试算法的评价提供了一个科学的方法；并且采取了新的分析方法，对几种常用的测试算法的测试能力进行了分析，为以后新的测试算法的实现提供了一个新的思路；同时，测试算法故障覆盖几