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本文参照ISO系列光束测试标准，在对国内外已有的半导体激光器发散角测量方法进行深入研究的基础上，针对半导体激光器光束的特性，提出了一种通过检测光斑截面边界点、运用最小二乘原理拟合光斑截面方程，从而测量发散角的新方法。
设计了用于检测光强的测试装置。采用步进电机实现光电探头和半导体激光器之间的相对运动；通过光电探头实现对光强的检测；搭建以AT89C55为核心的单片机系统，实现对步进电机的控制、边界点的判定、光斑截面方程的拟合以及发散角的计算和显示输出。
通过对测量数据的分析，验证了该方法的可行性和有效性，并对影响测量结果的因素进行了理论分析，提出了改进与完善的措施。