为建设我国自主可控的金融IC卡芯片安全检测认证体系,中国银联在人民银行指导下,牵头承担了2011年国家信息安全专项项目——“国家金融IC卡安全检测中心”的建设,重点研究芯片安全检测技术。本文属于“国家金融IC卡安全检测中心”项目中,芯片安全检测技术能力建设的一部分,其目的建立一套可靠的检测系统和标准化的检测流程,为金融IC卡中DES/3DES密码算法的安全实现提供快速可靠的检测方法,完善我国芯片安全检测认证基础设施。本文完成的主要工作包括：(1)研究分析光攻击、差分故障攻击的技术原理以及DES密码算法的实现原理,在此基础上提出针对DES算法的差分故障攻击方法与实现原理,为检测系统的实现打下了良好的理论基础。(2)研究设计了一套基于光攻击技术的芯片安全检测系统,详细介绍了系统的软硬件实现方案。该方案包括设备选型、主控板硬件设计、嵌入式软件设计和上位机控制程序设计,解决了对激光注入时机和物理位置进行精确控制的难题,实现了自动化测试。(3)设计了一套标准化的光注入攻击检测流程,对一款真实送检的芯片进行DES算法的光注入攻击测试,最终获取了DES加密密钥,证实了该系统能够对金融IC卡芯片的光攻击防御能力进行可靠的检测验证。本文所实现的基于光攻击的金融IC卡芯片安全检测系统,为金融IC卡中DES/3DES密码算法的安全实现提供了一种高效、可靠的检测验证手段,并作为“国家金融IC卡安全检测中心”的重要技术积累之一,通过了以倪光南院士为组长的专家评审组的技术验收,为我国金融领域的检测认证国产化提供了支持。经实践检验,该系统具备较好的稳定性,结合标准化的攻击检测流程,能够确保经过该系统检测的产品具有较高的安全性,从而具备了面向社会提供基于光攻击技术的金融IC卡芯片安全检测服务的技术能力。