随着电子产品的集成性的提高,电子系统越来越复杂,对电子系统测试性的要求也越来越高。电子系统测试性研究主要表现在两个方面:系统整体测试资源的配置与分配,和提高测试性研究方法的效率与精度。这对保证电子系统的故障诊断能力和降低系统测试检修成本有着至关重要的作用。为了提高系统的可检测性,通常在系统的设计之初就将测试性纳入考虑范围之内。本文的主要研究工作如下:1.简单介绍了电子系统测试性建模方法,这是电子系统测试性研究的基础。文中着重介绍了多信号模型,包括多信号模型的概念、方法及优势,并举例介绍了该模型对于电子系统的测试性建模方法。另外还介绍了不可靠测试条件下的电子系统测试性模型。2.对序贯测试问题及其常用优化算法进行了简单描述,并提出基于改进遗传规划的序贯测试优化算法。序贯测试问题是电子系统测试性研究中的一个经典问题,当前国内外几乎所有关于序贯测试问题的解法都是基于启发式搜索算法,文中以与或图搜索AO*算法为例,对启发式搜索算法进行了介绍。本文考虑采用进化算法思想来进行序贯测试求解问题,提出了基于改进遗传规划的序贯测试优化算法。该算法的基本思想在于从一群随机生成的效果较差的故障诊断树中进化出最优或近优的序贯故障搜索策略,优化过程简单且容易理解,实验结果证明其优化效果基本令人满意。3.对不可靠测试条件下的电子系统测试性问题进行了介绍,并提出分组编码遗传算法,用于解决分工序电子系统测试优选问题。文中首先介绍了该问题研究的现实意义,然后就几种用于解决该问题的传统思想进行了描述。本文所采用的智能算法均为遗传算法。最后就该问题提出了两种新的测试优选思想,分别为基于分解—并行和分组编码遗传算法的测试优选方法。另外,还将各方法与基于分组编码的离散粒子群算法测试优选方法结果进行了对比,证明所提测试优选思想的有效性。