测试能够有效地保证电路的可靠性,是集成电路产业链——设计、制造、测试、封装中必不可少的一个环节。随着半导体工业的发展,测试成本越来越高,低费用测试技术在这一领域显得举足轻重,已然成为国内外研究的热门课题。本文主要探讨集成电路时延测试的低费用测试技术。为了降低测试功耗,一些基于扫描链阻塞技术的测试方法相继出现。然而这些方法中有些是基于固定故障,有些需要额外控制信号,从而增加了测试数据量,使得测试费用增加。为了克服这些问题,本文基于国内外现有的理论成果,分析集成电路测试的基本原理,提出了一种基于扫描链阻塞技术的轮流捕获时延低费用测试方法。在该方案中,将被测电路中的所有扫描单元分成N(N为正整数)条子扫描链,使得电路中最长的子扫描链长度降为单链结构的1/N。由于测试一个故障并不需要所有的扫描单元都活跃,子扫描链的划分使得测试故障时可以阻塞一部分子扫描链。在测试模式下,该方法只有一条子扫描链或者全部子扫描链活跃。而在传统测试方法中,整条扫描链都工作于测试模式。该方法能有效的降低测试应用时间和测试数据量,并且只需要较少的硬件开销。最后,对提出方法进行实验分析,验证该方法的可行性。实验结果表明:在较低的测试功耗和保持故障覆盖率不变的前提下提出方法大幅度地降低了测试应用时间和测试数据量,从而降低了测试费用。对于不同规模的电路,相同的子链数,电路规模越大越有利于降低测试应用时间;对于相同的电路,划分的子链数越多,测试应用时间和测试数据量越低。