随着半导体技术的进步,芯片的规模在不断扩大,嵌入式存储资源也随之增多,块存储器（BRAM）是一种常用的嵌入式存储器,容量大,处理速度快。由于BRAM的重复性高、布线密度大,所以容易出现制造缺陷,会导致芯片良率降低。目前,传统的测试方法已不能满足对BRAM的测试需求,如何对BRAM进行高效的测试成为了芯片测试的重要环节。存储器内建自测试（Mbist）虽然会增加芯片硬件开销,但能有效地减少测试时间,已成为BRAM的主流测试方法。本文对BRAM的存储器内建自测试方法进行了深入研究,主要研究内容如下:1.针对传统测试算法存在故障覆盖率低、测试成本高等问题,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。通过增加连续读写操作和数据背景提高静态故障、动态故障以及字内耦合故障的覆盖率。采用March CG算法构建高效率Mbist电路,通过Modelsim对1Kbit×36 BRAM进行了仿真测试实验。相较于March C+算法,该算法对静态故障和动态故障的故障覆盖率分别提高了23.8%和27.3%。2.针对常见的Mbist测试方法存在故障覆盖率不高、灵活性差等问题,提出了一种新的基于有限状态机的可编程Mbist方法。设计了可编程控制模块和集成了八种测试算法的算法模块,提高了故障覆盖率和灵活性。采用Verilog语言设计可编程Mbist电路,通过Modelsim对1Kbit×36的BRAM进行了仿真实验。相较于常见的Mbist测试方法,所提方法对BRAM进行测试能够准确定位故障位置,故障的检测率提高了15.625%,灵活性差的问题也得到了很大改善。3.针对在板级测试中存在速度慢且需要人工进行重复操作的问题,将可编程Mbist方法应用到自动化测试设备（ATE）上,引入测试向量压缩技术和重配置技术,设计了ATE测试系统开发的整个流程,实现了工程化的批量测试,便于移植、通用性强。