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近年来,集成电路产业发生了翻天覆地的变化。随着制造工艺进入纳米阶段,芯片的速度和集成度不断上升,由此引发的芯片功能验证问题日益显著。芯片的验证技术影响着芯片的性能、成本和设计周期,在一定程度上决定了芯片在市场中的生存能力,因此验证技术的提高已成为IC设计者重点关注的热点问题之一。本文从芯片验证方法的发展历程出发,探讨目前功能验证技术的分类及各自优缺点。形式验证主要采用静态形式验证方法,适合小规模组合电路测试；FPGA验证虽能进行软硬结合仿真,但信号可视性较差；仿真性功能验证由于其自身动态验证的特点,已成为IC验证的主流方法之一。其中,基于功能覆盖率驱动的验证方式能提高仿真性功能验证的完备性和可靠性,但提高效率还得取决于随机向量的生成。针对此问题,本文提出一种基于遗传算法的测试激励生成技术,对基于DMX512协议的LED解码芯片进行仿真性功能验证,加速功能覆盖率收敛速度,有效提高验证效率。本文具体分析研究,主要包括以下几方面：第一,对基于DMX512协议的LED解码芯片进行设计分析,特别是对验证对象——DMX512解码模块的内部架构、数据帧、时序等特点进行详细研究,通过分析验证对象特点提取关键信息,制定相应的验证计划。第二,简要介绍遗传算法在功能覆盖率收敛上的应用,详细分析遗传算法中适应度函数和三大遗传算子的选取方法,利用概率分布函数分析各遗传算子在本文应用中的优越性,得到基于比例选择算子、均匀交叉算子和二元变异算子的优秀遗传算法。第三,根据LED解码模块的工作特点,搭建基于VMM形式的验证平台,利用System Verilog(SV)高级验证语言实现遗传算法并将其嵌入于验证平台中。第四,利用VMM形式的验证平台,对DMX512解码模块分别进行全随机向量测试和基于遗传算法的验证向量测试并分析在不同激励下,芯片功能覆盖率的收敛速度。最后说明基于遗传算法的测试向量生成技术能够加速功能覆盖率收敛速度,提高验证效率。