随着亚微米焦点X射线源和高分辨率探测器技术的发展和成熟产品面世,高分辨率锥束CT成像技术获得快速发展。微纳CT指空间分辨率达到几十至几百纳米的锥束CT,多采用面板探测器,锥束射线投影扫描,直接三维重建成像,具有分辨率高,成像速度快的特点,应用领域广泛。微纳CT系统空间分辨率除受射线源焦点和固有分辨率的影响,还与系统几何参数有紧密关系。在CT系统初装调试及长期使用过程中,系统几何参数偏差以及射线源焦点漂移会导致重建图像畸变或模糊,使图像空间分辨率降低。因此研究如何校准CT系统几何参数偏差和射线源焦点漂移具有重要的工程意义和实用价值。本文以高分辨率锥束CT系统为研究对象,研究了系统几何参数偏差校正方法和射线源焦点漂移校正方法。主要内容和创新点如下:第一,通过理论推导以及仿真实验分析几何参数偏差对重建图像质量的影响,并提出一种改进后的基于线框模型的几何参数测量与校正方法。该方法根据模型在探测器径向两个位置的投影图像计算源到探测器距离、源到旋转中心距离以及探测器纵向位置。并对模型在两次互为180°的投影图像进行分析,计算探测器横向位置。然后,利用模型参数及其投影图像的分析结果计算其余几何参数偏差。通过带参数FDK重建对几何参数进行校正。该方法抗噪性好,求解精度高,降低了对模型安装精度的严格要求,有较高的工程实用价值。第二,利用仿真实验分析讨论了射线源焦点漂移对重建图像的影响。并通过实际实验探讨了影响焦点漂移的因素,其中实验室室内温度对焦点漂移影响较小,而射线源功率会严重影响焦点漂移量,焦点漂移量随功率增加而增加。第三,提出一种基于相位相关的参考扫描补偿方法用于校准射线源焦点漂移。在长时间扫描之后立即进行一段参考扫描,利用扩展后的相位相关法对两组投影图像进行配准,并求解焦点漂移量。最后对物体投影图像进行补偿再重建。该方法能准确求解焦点漂移量,并有效提高重建图像质量。