LED作为新一代绿色光源,与传统光源相比,最大的优势在于其高光效和长寿命,这使得LED在普通照明领域的应用前景非常开阔。但也正是LED超长的寿命,对其寿命测试与可靠性性能评估提出了极大的挑战。目前大多数LED器件生产厂家标称的寿命多大于50000小时,即5.7年,这么长的时间对于实验室测试评估是不现实的。因此,在合理的时间内对LED的使用寿命进行可容忍误差的预测评估,对于工业界、学术界和终端用户都至关重要。本文研究了一种工业用发光二极管寿命评估测试方法,能够凭借短时间的寿命试验对LED的长期寿命进行预测。本文首先详细论述了这种预测方法的原理,它通过在一定时间内对一组LED进行光通量测试,每隔一段时间进行光衰监测,然后对这组光衰数据进行归一化处理,并通过指数函数拟合的方法对LED全寿命进行预测。本文自行搭建了一套针对1W大功率LED器件的寿命测试平台,对一组20个LED器件开展了长期寿命试验。另外针对这套系统及该预测方法进行了测量不确定度分析,理论上验证了该系统和方法进行LED寿命预测的可行性,并且从实验结果上也同样得到了验证。本文最后还按此方法对目前市场上几种典型LED器件进行了寿命预测分析,得到了这些典型LED器件的寿命数据,这些结果对于半导体照明行业以及终端用于具有重要参考意义。