该文研究中采用CCD(电荷耦合器件)采集电子衍射谱图象,运用计算机自动提取衍射斑点分布的几何特征,并研究了一种新型测试晶体结构的原理和方法.通过该系统可以自动计算衍射斑点之间的距离、位置和角度参数,而避免人为因素的干扰,这样可以根本改变传统人工测量衍射斑点距离的工作模式.由于研究课题工作量大,论文中只对高对称晶体结构的衍射谱作了采集和处理.该文处理的工作流程是:图象预处理一半阈值处理-衍射斑点的标号-重心计算-同组平行四边形单元的标记-平行四边形判别法-最后进行平行四边形单元的特征三角形参数的计算,并获得了理想的结果.平行四边形差别法是借鉴了图论知识和图象处理技术中对相同连接成分进行标记的算法.新模式的创建对描述电子衍射谱图的几何特征具有很高的价值.它不仅能处理没有噪声的质量较好的衍射谱,而且能够处理被噪声干扰的衍射谱图.实践证明,该算法能稳定和准确地辨别衍射斑点和噪声,剔除图象预处理中不能消除的突发噪声和麻点噪声,从而给计算结果带来较高的精度和可靠性.该文编写了与硬件配套的全部系统软件,用其它方法验证了该文结果的准确性.运用间接法采集电子衍射谱的照片,运用编写的软件进行准动态图象处理和计算.并得出了初步的结果.该文的软件是在Visual C++集成环境下开发的,具有良好的用户界面和可扩充性.