现代科技的发展推动磁带库的生产向小体积、高读写速度、大容量方向发展。这对磁带库中用来读写数据的磁头的要求也就越来越苛刻。磁带库磁头在组装的过程中，为了保证装配质量，需要对其中的多个参数加以控制和检测。本文根据实际工作需要，在分析了磁头形状以及装配尺寸后，对其装配及检测进行了研究。　　本文的研究内容主要包括以下几个方面：　　(1)对干涉显微镜的原理进行详细了解，并由此确定整个系统主要方案。　　(2)进行系统总体方案设计。首先考虑不同参数的装配及检测方法；接着介绍了系统硬件装置的选型和设计，其中最为主要的是视觉系统的设计。　　(3)在硬件准备充分的条件下针对不同情况考虑不同的算法并在VB操作平台上实现整个装配及检测过程。　　(4)对系统进行相应的测试，验证其可行性和可靠性。　　本文最后通过实验测试得出可被客户接受的实验数据，证明这种基于显微干涉法的磁头装配及检测系统的研制是成功的，可以应用于实际工作中。