论文部分内容阅读
手机辐射已经被普遍认为是能对人类健康造成危害的因子之一。癌症是导致全世界人类高死亡率的疾病之一。研究表明,人们使用手机时经常接触头部会对大脑造成不同程度的危害,进而可能诱发癌症。由于人体组织内含有与各种癌症发生的相关因子,这些因子的表达异常与癌症的发生、发展密切相关。目的:通过建立小鼠手机辐射模型,对小鼠大脑皮质中神经元的形态结构进行分析,并对抑癌基因p53、PTEN以及血管内皮生长因子VEGF在小鼠大脑内的表达水平进行分析,进一步为探究手机辐射与人类脑肿瘤的发生、发展之间的关系提供理论依据。方法:1.对小鼠体重及脑重进行测量,并计算脑指数。2.对小鼠血液中的S OD活力及MDA含量进行检测。3.利用常规石蜡切片、苏木精-伊红染色法对小鼠大脑皮质的组织学结构及神经元形态结构进行观察;4.利用免疫组织化学方法对小鼠大脑中p53、PTEN以及VEGF蛋白进行定位分析。5.利用实时荧光定量PCR方法对小鼠大脑中p53、PTEN以及VEGF m RNA表达水平进行定量分析;6.利用Western blotting方法对小鼠大脑中p53、PTEN和VEGF蛋白表达水平进行定量分析。结果:1.脑指数结果显示:与对照组相比,小鼠手机辐射低剂量组、中剂量组和高剂量组中均没有表现出显著性差异(P>0.05)。2.生理生化指标结果显示:a.SOD活力与对照组相比,小鼠手机辐射低剂量组、中剂量组无显著性差异(P>0.05),高剂量组有显著性差异(P<0.05)。b.MDA含量与对照组相比,小鼠手机辐射低剂量组、中剂量组无显著性差异(P>0.05),高剂量组有显著性差异(P<0.05)。3.苏木精-伊红染色结果显示:与对照组相比,小鼠手机辐射低剂量组、中剂量组和高剂量组中大脑皮质的组织结构无明显变化,无炎症现象,也未发现明显的凋亡神经元。4.免疫组织化学结果显示:p53、PTEN和VEGF在小鼠大脑皮质各层中均有分布,其中p53免疫阳性反应产物主要分布在外颗粒层和内颗粒层,PTEN免疫阳性反应产物主要分布在分子层和外颗粒层,VEGF免疫阳性反应产物主要分布在外颗粒层和外锥体层。5.实时荧光定量PCR结果显示:小鼠手机辐射低剂量组和中剂量组的p53m RNA水平均低于对照组,而且中剂量组显著低于对照组(P<0.05),高剂量组显著高于中剂量组(P<0.05);小鼠手机辐射低剂量组、中剂量组和高剂量组的PTEN m RNA和VEGF m RNA水平均低于对照组,其中高剂量组显著低于对照组(P<0.05),高剂量组的显著低于中剂量组(P<0.05)。6.Western blotting结果显示:小鼠手机辐射高剂量组p53蛋白表达水平显著高于中剂量组(P<0.05);小鼠手机辐射高剂量组PTEN、VEGF蛋白表达水平显著低于对照组(P<0.05)。结论:本论文所采用的辐射剂量对大脑皮质神经元形态结构没有显著性影响,并且高剂量的手机辐射能够使机体内与脑肿瘤形成相关蛋白p53、PTEN以及VEGF的表达出现异常,进而对机体脑部的保护机制产生不良影响,这可能与脑肿瘤的形成及发展具有潜在的相关性。