随着电路设计技术的不断发展，集成电路的测试对保证电路的可靠性的作用日益增加。为了确保芯片的质量和性能，在集成电路的设计、生产与应用等各个阶段都要对电路进行反复的检验和测试。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用，而且可以降低电路与系统的制造成本。　　本文主要针对逻辑芯片的功能测试，所设计的逻辑芯片功能测试系统包括：测试电路、上位机软件和测试平台。测试电路负责将接收到的上位机指令转换成测试命令，并将测试信号发送出去，并读回测试值，再传送给上位机软件。上位机软件主要负责调用测试数据库中的测试矢量，完成串口发送和测试结果显示等。测试平台则提供了一个芯片测试插槽，并将被测芯片与测试系统连接起来。　　本文完成了对40引脚以下的逻辑芯片进行功能测试的测试系统的硬件与软件的设计。本文的主要工作如下：　　(1)使用FPGA芯片EP2C5Q208C8N作为硬件测试电路的主控芯片，使用其与上位机进行串口通信，并获得测试信息。使用Edge818窗口比较器作为测试专用芯片，负责主控芯片与被测芯片之间测试信息的发送与接收。　　(2)使用Visual C++ 6.0开发了一个测试界面，实现了测试矢量的输入、无故障输入、串口发送和测试结果显示等功能。　　(3)使用直插式40引脚的专用测试座设计了一个被测芯片测试平台，此平台可用于测试40引脚以下的逻辑芯片。　　(4)使用三款74系列芯片作为被测芯片，完成了若干次完整的测试实验。　　经过测试实验表明，本文设计的逻辑芯片功能测试系统能够完成逻辑芯片的基本功能测试，对逻辑故障的识别比较准确。