静电放电现象是一种静电电位不同的物体在直接接触或靠近时引发的电荷转移现象,该现象在放电点附近会产生大强度和高频率的电磁场,该电磁场会通过耦合辐射进入被测设备,对电子元器件造成不可逆的损坏。在印刷电路板的电磁兼容分析中分析耦合机理,可以研究判断造成电路板出现电磁兼容问题的原因,从而进一步优化集成电路设计。然而该现象物理机制在高频频段内非常复杂,使用传统建模方法研究难以成功实现,所以对静电放电与被测设备的耦合关系进行有效的建模方法研究具有十分重要的意义。本文搭建了实际的传输线脉冲发生器,仿真并验证了传输线脉冲的产生过程与影响因素,并根据S参数的原理搭建了可以模拟不同耦合形式的静电放电激励探头的二端口电路模型。第一章介绍了本论文的研究背景,国内外的研究进展与本文的结构安排。第二章介绍了传输线脉冲的产生原理和传输线脉冲发生器电路结构。给出了进行测试所得到的结果。根据传输线脉冲产生原理,搭建了传输线脉冲发生器实际模型,最后通过仿真和试验两种方法得到了传输线脉冲输出波形。实际测量传输线脉冲发生模型产生的矩形脉冲上升沿在1ns之内,波形质量较好。继而对传输线脉冲的影响因素进行仿真,仿真结果表明不同长度的传输线所产生的传输线脉冲脉冲的宽度不同,减小杂散电感和电容可以使传输线脉冲的上升时间更短更符合要求,脉冲波形的形状得到改善。第三章阐述了搭建磁场探头和电场探头的耦合电路模型的方法。首先设计测试用激励探头,被测电路采用简单电路,使用网络分析仪测试不同激励探头与电子线路耦合部分的S参数,根据ADS软件仿真得到的S参数数据和由实验测试所得的S参数数据,利用ADS软件分析优化功能完成建模中各杂散电路元件参数的提取。第四章由实际测试结果比较分析仿真所建模型输出响应与实测电路输出响应,验证探头设计和耦合模型搭建的正确性。第五章在被测电路上加入防静电电容,然后通过仿真验证电容和磁珠的防护作用并对于提高电路的静电放电防护性能提供了电容选择推荐方案,为实际测试中发生故障需要解决方案时提供便捷的选择原则。文章给出了高频情况下,探头与被测电路构成的二端口 S参数转换的模型与提取模型中元件参数的可行方法,但是在普适性上仍然需要进一步研究。