射频识别技术(RFID)是从二十世纪末兴起的一项利用无线射频信号进行非接触式自动识别技术,近年来超高频(UHF)RFID技术由于具有更远的识别距离、更快的识别速度和深度等特性得到国际上广泛的关注和迅速应用。随着超高频RFID技术应用需求的不断扩大,其工作环境越来越复杂,RFID系统中标签的性能也需要不断发展,以满足不同工作环境的应用要求。对RFID标签来说,标签是RFID系统的数据载体,而标签天线作为与阅读器之间通信的桥梁,影响着整个系统的性能,起着至关重要的作用。当今超高频RFID尤为广泛,特别是无源的超高频RFID系统,影响RFID标签识别性能的众多因素中属标签天线的性能好坏占据主要地位,因此,对RFID标签天线的研究具有重大理论和实用价值。本文以无源超高频RFID标签为研究对象,首先简单介绍了RFID系统的基本知识,简要概述RFID系统技术的组成结构及工作原理,然后介绍了天线相关的理论基础及标签天线常见的性能参数,并介绍超高频RFID标签天线几种重要参数的测量方法。最后以标签天线辐射效率为研究对象,在传统测量辐射效率方法的基础上,提出一种基于测量无源偶极子标签天线的三个基本参数,即天线方向性系数、实际增益和功率传输系数而得出标签天线的辐射效率。通过相关文献与仿真对比验证所提出的方法的合理性和可行性。从测量中获得的信息可以用来计算标签天线材料结构损失和进一步改善和优化标签天线的性能。该方法对一些实际应用环境和不同类型标签天线的测量有着广阔的潜力。