紧缩场天线测量系统是一种适用于高频率天线测量的先进技术,它通过反射单元或透射单元将馈源所辐射的球面波转换为伪平面波,克服了大口径高频天线测量的远场距离要求,在较小的空间内完成对待测天线的测量。随着太赫兹频段天线应用场景的不断扩大和延伸,对于紧缩场测量技术的需求也日益增多。紧缩场测量系统依据电磁波转换单元的形式,可分为透射型紧缩场和反射型紧缩场,反射面形式的紧缩场因其频带宽、加工成熟等优点,发展较为迅速,其所能测量的频率不断提高、有效测量口径不断增大,受到广泛的关注。毫米波、太赫兹天线在测量过程中更容易受到环境的干扰并造成测量误差,因此对于测量方法和手段提出了更高的要求。目前已经有多种天线测量校正技术得到了验证并应用于实际工程测量当中,本文将基于BUPT-QMUL实验室所搭建的三反射镜紧缩场测量系统,围绕测量过程中存在的误差以及校正技术进行研究,主要内容包括以下三个方面:1.建模分析了干扰源对三反射镜紧缩场天线测量系统的影响,包括对系统静区的影响以及对天线测量结果的影响;2.对基于多位置测量的校正技术实现原理进行了研究,并在三反射镜紧缩场条件下进行了仿真验证,分别对100GHz和300GHz时的天线测量校正结果进行了分析;3.在三反射镜紧缩场测量系统基础上,搭建了待测天线位移控制系统,并在100GHz条件下对基于多位置测量的校正方法进行了实验验证和校正结果分析。