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原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)自1986年发明以来,已成为表面形貌成像和定量测量各种材料物理化学性质的主要工具。与大多数依赖光子相互作用的成像技术不同,AFM核心部件是一根对微弱力极其敏感的微悬臂梁,将其一端固定,另一端接近样品表面,在激振力作用下,微悬臂梁自由端振动,从而通过分子间作用力的变化获取所要扫描样品的信息。在微悬臂梁自由端由远及近直至接触样品表面的过程中,存在着空气压膜阻尼效应、范德华力、静电力、液桥等多种作用。在探针针尖还未到达样品表面与其接触时