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目的1通过研究离体牙经过不同的的储存方式和储存时间后根管壁玷污层的去除情况,与新鲜离体牙进行比较,以得到与新鲜离体牙最为相近的储存方式。2研究在根管预备过程中使用低浓度的Na Cl O和EDTA进行根管冲洗后加入不同浓度的Tween-80是否对根管壁玷污层的去除情况以及根尖微渗漏有影响。方法1选取因正畸或者牙周病需要拔除的65颗新鲜的单根管离体牙随机分为五组实验组:采用四种不同的离体牙的储存方式(n=15),A组4℃10%甲醛溶液浸泡;B组4℃2%氯亚明溶液浸泡;C组4℃蒸馏水浸泡;D组-20℃冷冻储存;对照组(n=5):新鲜离体牙(拔除30min内备用)。在第30天、第60天及第90天从实验组中随机选取5个样本以用于实验。根管预备过程中采用Pro Taper冠向下法预备至F3,扫描电镜观察根尖1/3玷污层的去除情况。2选取临床上因正畸或者牙周病需要而拔除的单根管离体牙40颗,随机分为A、B、C、D四组,每组样本含量10颗,采用Pro Taper冠向下法进行根管预备至F3,每组用相应的冲洗液进行根管冲洗。A组:根管预备过程中2%Na Cl O+15%EDTA交替进行根管冲洗;B组:根管预备过程中2%Na Cl O+15%EDTA交替进行根管冲洗,根管预备完成后用1.0%Tween-80冲洗根管;C组:根管预备过程中2%Na Cl O+15%EDTA交替进行根管冲洗,根管预备完成后用1.5%Tween-80冲洗根管;D组:根管预备过程中2%Na Cl O+15%EDTA交替进行根管冲洗,根管预备完成后用2.0%Tween-80冲洗根管。冲洗完成后做扫描电镜检查。3.按照实验2的要求和方法进行根管预备后,采用冷牙胶侧向加压法进行根管充填,将离体牙放入微渗漏模型,在第1、2、4、7、10、15、20、30天进行检测,测出根尖渗出葡萄糖的浓度。结果1与其他实验组相比,实验组-20℃冷冻储存方式玷污层评分有统计学差异(P<0.05),与新鲜离体牙的玷污层评分无统计学差异(P>0.05);且储存30天、60天、90天差异无统计学意义(P>0.05);2四组离体牙根尖1/3玷污层去除情况差异有统计学意义(P<0.05),随着Tween-80的加入,玷污层评分降低,2.0%Tween-80组与其他三组相比玷污层评分最低;3四组微渗漏在各个时间点差异具有统计学差异(P<0.05)结论1离体牙不同的储存时间对根管壁玷污层去除情况无影响,-20℃冷冻储存方式是最接近新鲜离体牙的储存方式;2使用低浓度Na Cl O和EDTA进行根管冲洗时加入Tween-80,可以增强冲洗液对根尖1/3玷污层的去除能力,且随着Tween-80使用浓度越高,玷污层去除效果越好;3去除玷污层后根尖封闭性更好。