近年来,随着移动智能终端和物联网技术的兴起,集成电路领域得到了飞速发展。其中,现场可编程逻辑门阵列(FPGA)和专用集成电路(ASIC)获得了众多企业的认可。为了降低IC设计成本和风险,缩短设计周期,芯核复用技术被广泛应用。但是,复用芯核在给芯核设计带来便利的同时,也带来了新的问题。芯核在进入市场流通后,很可能面临被其他生产厂家非法盗用,进行二次开发。这种行为的出现会破坏企业之间公平竞争的原则,给企业造成不可估量的经济损失。近年来,如何有效的对复用芯核的知识产权进行保护,引起了国内外许多研究学者和研究机构的重视。目前,许多研究学者提出了一系列的解决方案。其中,将多媒体数字水印的思想应用到芯核版权保护当中的研究方法,成为了该领域的研究热点。研究人员在芯核水印领域所做的工作,主要是集中在如何降低水印的资源开销、提高水印的隐蔽性以及便于水印跟踪等方面。本文所做的工作主要是在提高芯核水印鲁棒性和提高芯核水印盲检测的实时性两方面展开的工作:(1)针对现有芯核水印技术在水印受到攻击破坏后,无法进行有效鉴权的问题,本文提出了一种高聚合度的互映射芯核水印算法。该算法采取数据冗余的方式,通过在水印之间建立互映射关系,允许攻击者在一定程度上对水印进行破坏。当水印信息受到部分破坏后,可以利用互映射关系进行自恢复,从而提高芯核水印的鲁棒性。(2)针对现有的基于零知识协议的芯核水印盲检测方案存在实时检测性能较低的问题,本文提出了一种基于模糊位置的芯核水印快速盲检测算法。该算法通过引入模糊位置的操作,打破位置置乱算法的可逆性,从而降低水印盲检测当中的质询轮数,有效提高了芯核水印盲检测的效率。实验结果表明,高聚合度的互映射芯核水印算法对去除攻击具有较强的抵抗能力。并且,通过与其他芯核算法的比较,该方法在水印隐蔽性和资源开销上更具有优势。通过与现有的芯核水印盲检测算法进行实验对比,基于模糊位置的芯核水印快速盲检测算法大大降低了质询过程当中产生的计算量,具有更好的检测实时性。