目的:探讨用IVIM来解释DKI参数图中病灶不同区域的微循环灌注及扩散情况的可行性,期望可以为DKI能够准确划分梗死核心和缺血半暗带提供进一步的证据补充。研究方法:本研究回顾性分析了24例临床确诊为缺血性脑卒中的患者及24例无神经系统疾病的正常人的头磁共振DWI、DKI及IVIM序列的扫描结果。将原始数据经GE aw4.6后处理工作站处理后得到DKI及IVIM各参数图。根据MD参数图与MK参数图所示的病灶范围是否一致(相差5mm为界),将24例脑梗死患者的31个病灶分为MD/MK匹配组(<5mm)与MD/MK错配组(≥5mm)。将MD与MK参数图均显示信号异常的区域的脑组织命名为病灶中心区,MK图正常而MD图显示异常的区域的脑组织命名为错配区,MD图异常信号区周边2cm内的正常脑组织命名为边缘区。选取病灶最大截面绘制感兴趣区(ROI),获得病灶各区域的DKI参数值和IVIM各参数值。健康对照组选择在基底节及丘脑区绘制ROI,得到各参数值。采用SPSS22.0进行统计学分析。采用配对t检验,分别比较匹配组、错配组各区域与镜像区的参数值的差异。采用独立样本t检验比较MD/MK匹配组与MD/MK错配组两组间相同缺血区域各参数值的差异。采用单因素方差分析比较匹配组、错配组各组内不同区域IVIM各参数值的差异;对于错配组内同一IVIM参数值在不同缺血区域两两之间的差异采用LSD法进行比较。采用独立样本t检验比较病灶镜像区与健康组的参数值差异。P<0.05表示具有统计学意义。结果:24例脑梗塞患者的31个独立病灶中,MD/MK匹配组17例,MD/MK错配组14例。(1)两组患者的病灶中心区、错配组病灶的错配区MK、Ka、Kr值均高于镜像区,MD、Standerd ADC、Slow ADC、f值均低于镜像区,各参数值均有统计学意义(P<0.05)。病灶边缘区Standerd ADC、Slow ADC值较对侧减低,f值较镜像区增高,差异均有统计学意义。Fast ADC在病灶中心区较镜像区减低,差异有统计学意义,Fast ADC值在错配区和边缘区与镜像区的差异均没有统计学意义(P>0.05)。(2)匹配组和错配组在同一缺血区域的同一参值数之间的差异均没有统计学意义(P>0.05)。(3)错配组内和匹配组内中心区与边缘区的参数值差异除了Fast ADC值没有统计学意义外(P=0.25),其余各参数均具有统计学意义。各组内中心较边缘区MK、Ka、Kr值升高,MD、Standerd ADC、Slow ADC、f值减低。(4)脑卒中患者镜像区与正常健康人组的各参数的差异均不具有统计学意义。(P>0.05)结论:IVIM的衍生参数Standerd ADC、Slow ADC、f能够区分根据DKI判定的梗死核心和缺血半暗带的弥散和灌注差别。IVIM为证实DKI能准确评价梗死核心及缺血半暗带区提供了进一步的证据补充。