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三晶LED（RGB-LED）是全彩显示屏最基本的显示单元，其光电参数的测试研究对全彩显示屏质量的提高有着极大的影响。目前国内三晶LED测试装置在技术上尚未完全成熟，在测试精度和速度上均不能满足企业的实际需求，并且近年来国内大多数的产品都是针对单晶LED设计的，鲜有三晶LED的光电参数测试装置。本文设计了三晶LED光电参数测试装置，并对测试装置进行试验研究。本文首先介绍了三晶LED的主要光学和电学参数及其测试方法与原理。在对大功率三晶LED特性进行分析的基础上，重点研究了三晶LED的驱动电源问题，提出了用三路恒流源驱动三晶LED，讨论了提高恒流源精度的方法，采取选用温漂系数很低的康铜丝作为采样电阻等措施提高恒流源精度，保证了驱动电流源的稳定性和精确性。然后，在明确了三晶LED光电参数的基础上，本文对三晶LED光电参数测试装置的研制可行性进行分析，主要包括控制系统，测试系统及软件系统的设计。控制系统采用MCU与PC机相结合的技术，MCU用于控制硬件电路模块包括程控恒流源驱动、程控恒压源驱动、A/D采样、D/A输出等设计，PC机用于控制三晶LED的光色电参数的测试过程。测试系统采用光谱仪与PC机通过USB接口连接进行测试，并引入了积分球光学取样技术、分光积分法相结合的光度测试技术。软件系统是由下位机程序以及上位机程序两部分组成。最后，本文通过对装置标定方法的研究，确定了三晶LED正向电压、光通量、光强作为测试装置的标定参数，并对三晶LED测试装置进行了实验测试与验证。通过实验可知，该测试装置的检测速度快，单颗三晶LED测试时间为60ms，且RGB-LED的光电参数的重复性误差小，比如光通量的测量重复性在±5％之内。结果表明测试装置符合设计要求，实用性能良好。三晶LED光电参数测试装置是半导体照明行业内不可或缺的关键设备之一，它的研制成功将会有力地推进全彩半导体产业的发展步伐。