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有机电子器件由于其先进的器件性能以及潜在的应用优势，在过去二十余年得到了快速的发展。当前，对于有机材料的设计合成和器件制备等方面已经取得了巨大的进步，而对于相关的基础研究仍存在许多科学问题有待进一步解决。有机电子器件的材料电子结构是影响器件性能的最重要因素之一，而紫外光电子能谱(UPS)是研究有机材料电子结构的重要手段。本报告围绕紫外光电子能谱(UPS)的搭建和调试，重点研究了以下内容: 1)标定了几种常用电极(Au、Ag、Cu、Al、Ti、Si、ITO)的功函数，对比了采用Ar离子刻蚀前后样品表面功函数的差异;采用紫外臭氧处理和氧等离子体处理样品表面，研究了样品表面功函数的变化及其原因;研究了蒸镀速率对于Al电极功函数的影响。 2)研究了MoO3薄膜样品的原位加热处理对样品功函数的影响，发现加热处理能将样品功函数从4.5 eV提高到5.3eV;研究了Ar离子和六苯并苯离子刻蚀的表面清洁技术对MoO3薄膜样品功函数的影响，发现表面清洁能够使得MoO3薄膜样品的功函数进一步提高到5.7eV。 3)研究了溶液法制备的PAA薄膜修饰对系列电极功函数的影响，发现采用合适厚度的PAA薄膜修饰Ag和ITO电极时，对应电极的功函数有较大幅度提高。通过溶液法制备的PAA薄膜修饰Ag电极，降低了Ag电极与有机半导体之间的接触势垒，改善了载流子的注入，提高了基于Ag电极的底栅底接触结构晶体管性能。 4)通过设计两种特殊的不导电样品（样品分析表面与样品偏压电源之间不导通），采用荷电补偿技术探索了不导电样品的UPS价带谱测试，并跟对应的导电样品UPS谱图进行对比，同时通过XPS辅助的特定峰位对荷电补偿的绝缘样品UPS谱图进行矫正，提出了一种针对绝缘样品UPS价带谱研究的潜在方法。