电子元器件的质量特别是存储器的质量直接关系到电子设备研制的可靠性水平。因此,在上机之前对所有的存储器必须进行严格的测试和检验。但随着超深亚微米等技术的应用使得电路的集成度日益增高,大规模数字集成电路的测试难度越来越大。随着质量体系认证工作的日益深入开展,国内很多电子设备研制单位通常配备了成套数字集成电路及其它电子元器件的检验测试系统。但从国外引进的大型测试系统,往往缺乏针对入场质量检测的测试程序及灵活的测试适配器。 论文主要针对以上大型系统本身的缺陷,研究解决办法。首先,介绍了集成电路主要是存储器及测试技术发展现状、趋势。论述了存储器的基本结构、分类、故障模式以及其测试基本原理。然后,研究分析了产生存储器测试图形的各种测试生成算法,包括齐步法、跳步法、行列走步法等。这些测试算法,复杂程度不同,故障覆盖率也不同,在实际应用中可以适当选取。 此外,还对BIST测试技术在存储器测试中的应用进行了探讨。存储器特别是嵌入式DRAM的传统方法和BIST测试完全不一样,BIST测试方法将成为不仅是存储器而是整个集成电路的主流测试技术。因为,随着微电子工艺和技术以及通信技术的发展,特别是半导体存储器、中央微处理器、数字信号处理器和可编程逻辑器件的需求量越来越大,性能要求也越来越高。但是,随着系统芯片的日益普及,测试成本正呈现出增加的趋势。为了保持较低的测试成本,未来的测试将会是完全BIST,它已经在存储器测试、通信系统测试等方面与扫描测试结合并成功应用,它的优势已经突湿出来。基于BIST的测试技术的发展和完善是VLSI制造业面临的一项重要课题。 最后,针对现有测试系统在质量检验测试中的不足,我们结合测试理论研