研究半导体激光器的可靠性及其规律,对于改善器件性能,提高器件寿命和正确使用器件有重要意义。本文采用电导数技术和噪声测量技术对半导体激光器可靠性进行了研究,包括器件性能表征和可靠性评价筛选,并与电老化结果进行了对比分析。分析了器件的退化机制和类型,从器件制备工艺和测试、使用等方面提出了一些提高器件可靠性的措施。研究了温度对激光器参数的影响。研究了电导数参数与器件特性和可靠性的关系,运用电导数参数对器件可靠性进行了评价和分析。开展了噪声用于大功率半导体激光器质量表征和失效机理分析等方面的研究,分析了表面状况、串并联电阻、退火、内部缺陷等因素对器件噪声和性能的影响。将器件在小注入(I=20μA,器件处于为导通状态)下的噪声引入半导体激光器的可靠性筛选,提高了筛选的准确率。