随着红外热成像技术的发展,红外成像系统有广泛的应用前景。红外成像系统由制冷型发展到非制冷型红外热成像系统,由红外焦平面阵列构成的凝视红外成像系统,是目前红外成像系统的主要发展方向。而目前由于探测器制作工艺以及场景辐射等原因,红外焦平面阵列存在的非均匀性响应和盲元问题,在很大程度上限制了系统的探测性能,是系统研制中的关键问题。本文针对红外焦平面阵列的非均匀性问题,讨论了非均匀性的校正方法和盲元检测以及补偿算法。在基于标定的非均匀性校正算法方面进行研究,比较了两点温度定标算法和多点温度定标算法的校正效果;根据红外焦平面非均匀性响应的不同,一般多点温度定标算法的校正效果好于两点温度定标算法,但是多点存在运算量大、系统实现复杂的问题,因此应该根据具体的情况选择合适的温度定标段数。同时,红外焦平面存在的盲元问题,也制约着红外热成像技术的发展。盲元包括器件级和信号通道级两种,本文针对信号通道级盲元,比较了不同的盲元检测算法,提出了一种改进的盲元现场检测算法。该算法能够在定标的时候得到判断盲元的阈值,同时采用递归的方法检测整个红外焦平面存在的盲元。同时运用场内行列间内插的盲元补偿算法对检测出的盲元进行补偿,最后得到校正后的红外图像。