Serial ATA即串行ATA是一种完全不同于并行ATA的新型硬盘接口类型,由于采用串行方式传输数据而知名。内建自测试BIST(Build-In Self-Test)技术通过在芯片内部集成少量的逻辑电路实现对集成电路的测试,被认为是解决测试仪器开发周期长且复杂,费用也极为昂贵的有效方法之一。本文基于中芯国际设计服务处串行ATA组科研项目“SMIC 0.13μm CMOS工艺高速串行ATA的研究与设计”,通过对传统的内建自测试技术、SATA及其物理层的介绍,提出了SATA内建自测试的方法。该方法由于没有采用存储器存储测试模板,所以可以节省一定的芯片面积。论文首先对SATA内建自测试的各种测试信号及其原理作了详细介绍;然后提出了误码率测试系统的结构,并详细介绍了误码率测试系统的工作原理;最后对误码率测试系统作了电路设计和实现(包括Verilog代码的编写、功能的验证、电路的综合、时序的分析和布局布线)。该误码率测试系统的电路已采用中芯国际0.13μm CMOS工艺流片。