随着微电子技术和计算机技术的发展,微控制芯片功能越来越强大,而嵌入微控制芯片的设备和系统越来越多,使得嵌入式技术越来越引人注目。同时,半导体集成电路的广泛应用使得其可靠性问题越来越突出,老化试验作为一种能够将产品早期故障剔除的无损试验技术也成为提高产品可靠性的重要手段。现在,需要老化的集成电路越来越复杂,已有的老化系统已不能满足要求。开发新一代的老化测试平台就成了本文研究和解决的重要课题。 本设计是对原有的BTI3000N型系统的升级换代,将嵌入式技术引入了老化测试领域,同时结合可编程ASIC技术,大大提高了系统的性能,简化了编程工作,缩短了系统开发时间,实现了整个系统的软硬件可配置,具有很好的通用性和扩展性,可老化各种数字、模拟器件,在该领域属于首创。 本文首先介绍了嵌入式系统的概念和应用以及集成电路老化技术的原理和发展,指出了国内老化技术面临的问题。接着介绍了平台硬件结构的组成和操作系统的特点,并分析了内核的启动过程。最后详细讨论了针对本平台的应用程序的开发。 归纳起来,本文主要具体工作如下: 1.对嵌入式系统和集成电路老化技术的介绍。 2.分析uClinux操作系统的特点,指出它与标准Linux的区别及其对应用程序开发造成的影响。 3.详细分析内核启动过程,指出移植到本平台需要做的修改。 4.利用GNU和VC 6.0开发了平台管理程序。 5.实现了多块FPGA的并行配置。 6.编写和调试了平台主控程序,实现了老化RAM、DSP和FPGA等多种器件的功能。