磁片表面缺陷检测技术研究

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本文的研究对象是钕铁硼材料的磁片。如果磁片表面出现磕边、麻点或划痕缺陷轻则影响磁片的商业价值,重则在使用中造成严重的后果。在当前的质量检测中还主要依靠人工检测,但由于人工检测易受到人的主观因素影响而造成误检、漏检,且人工检测的效率低,劳动成本高,不利于企业的长期发展。因此利用图像处理技术实现磁片的表面缺陷检测,具有重要的实际意义和经济效益。本文要检测的磁片表面缺陷有磕边、麻点和划痕。磁片磕边缺陷的检测方法是,首先使用单阈值法对磁片图像进行二值分割,再使用模板定位算法对二值分割后的磁片图像进行模板定位,之后把图像的根坐标系转换到固定坐标系以把图像位置不同的磁片变换到统一坐标系下进行检测;然后使用最大熵法提取出要检测磁片的目标区域,并使用基于最小二乘法的直线拟合方法拟合目标区域的直线边和基于最小二乘法的圆拟合方法拟合目标区域的圆角边,计算出各边界点到拟合边界的距离;最后用标准值和计算出的距离比较以判断是不是磕边。磁片麻点和划痕缺陷的检测方法首先也是进行图像的模版定位和固定坐标系的转换,之后对转换后的磁片图像进行中值滤波法处理以去除图像中椒盐噪声的干扰;然后分析磁片图像的麻点和划痕的特征以设定合适的灰度阈值,再用确定的阈值对磁片图像进行分割若有缺陷则计算得到的缺陷面积或缺陷长度;最后与标准值比较以确定是不是麻点或划痕。最后,本文依据上述的检测方法设计并实现了磁片表面缺陷检测系统并进行了测试。实现结果表明,本磁片表面缺陷检测系统对于磁片的磕边缺陷的检出率可达到90%,对于磁片表面的麻点或划痕缺陷的检出率可达到71%。
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