MEMS薄膜材料热学参数测试结构研究

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微电子机械系统(MEMS,Micro-Electro-Mechanical System)是在微电子制造技术的基础上发展起来的新型器件,具有广阔的应用前景。MEMS器件在加工过程中,其结构材料的物理特性常常受到加工工艺的影响而出现参数的波动,薄膜材料的热学参数是重要的物理参数。这种材料参数对工艺的敏感性导致产品的一致性、重复性和可靠性无法得到保障。因此,研究材料参数的在线测试非常必要。  本论文主要研究MEMS薄膜材料热学参数的测试结构,实现对加工工艺中薄膜材料的热膨胀系数、塞贝克系数的提取,为MEMS器件的设计和优化提供实际参数依据。另外,论文还对双层膜的热膨胀系数测试结构进行了设计分析、理论推导和仿真,并进行了流片测试。  本文在实验室已有的单层膜热膨胀系数测试结构的基础上,基于美国MEMSCAP的PolyMUMPs加工工艺,对测试结构进行了参数优化,并进行流片测试,对测试结果进行了误差分析。基于误差分析,针对理论模型中的修正因子进行了深入的研究讨论,验证了理论模型的准确性。  本文提出了一种塞贝克系数的在线测试结构,并给出了相应的测试方法。该测试结构利用两层二氧化硅绝缘层作为匀热板,通过ANSYS软件对测试模型进行了稳态分析。分析结果表明匀热板很好的起到了匀热的作用。对测试结构进行了版图设计并流片加工,获得了实验结果。  本文提出了一种双层膜的热膨胀系数测试结构,推导出双层膜曲率半径与各薄膜层的热膨胀系数之间的关系,给出了解析模型。该测试结构分为双层膜翘曲结构和投影游标头结构两部分。本文对测试结构的恒温加热、电流加热和存在残余应力三种工作条件进行了软件仿真,验证了理论公式的正确性,并提出了抵消残余应力的方法。该测试在自然环境中进行,无需专门的测试仪器,满足在线测试的要求。  本文提出的几种测试结构和测试方法,具有测试方法简单,对测试仪器和测试环境要求低等特点,满足在线测试的要求。经过软件仿真、工艺线加工和实验测试的验证,证实这些测试结构能够在实际工艺线上应用,实现监控MEMS加工工艺并提供设计所需的材料参数。
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